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电子产品的故障现象的可靠性试验：第二部分 关于金属须晶现...

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作者 宋诚 杨家铿
出处 《电子产品可靠性与环境试验》 1991年第5期46-47,共2页 Electronic Product Reliability and Environmental Testing
关键词 电子产品 金属须晶 可靠性 试验
分类号 TN06 [电子电信—物理电子学]
  • 相关文献
电子产品可靠性与环境试验
1991年 第5期

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