期刊文献+

γ射线反散射石英坩埚厚度仪样机的研制 被引量:5

Prototype Development of Quartz Crucible Thickness Meter With Gamma Backscatter
下载PDF
导出
摘要 介绍了一种以低能γ射线反散射为方法原理的石英坩埚厚度仪,仪器以低功耗单片机P89V51RD2为智能仪表核心,使用241Am作为γ射线源,探测器采用NaI(TI)闪烁探测器。精密机械装置带动探测器在石英坩埚表面移动,实现自动测量。该测量仪测量具有精度高、操作简单、轻便且可随身携带等特点,直接贴在坩埚上进行测量,5s内给出测量结果。 It introduces a kind of quartz crucible thickness tester, with ^241Am as the low energy gamma ray source, the material of the scintillator in the detector is a NaI (TI). The Precision machinery device drives the detector in the quartz crucible surface move around. The measuring instrument has the characteristics of high precision, simple operation, light and portable, the results are given for 5 seconds.
作者 韩揽月 袁平
出处 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2013年第6期705-707,共3页 Nuclear Electronics & Detection Technology
关键词 γ反散射 石英坩埚 厚度测量 Garmna backscatter thickness measurement quartz crucible
  • 相关文献

参考文献2

二级参考文献1

共引文献11

同被引文献23

引证文献5

二级引证文献7

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部