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GP-1硅片平整度测试仪的性能特征
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摘要
本文介绍以作者提出的镜面莫尔轮廓法的原理设计制造的平整度测试仪,各种典型镜面的条纹形状及其特征,解释了硅片平整度误差的判读方法以及在全场能达到微米级精度的检测步骤。
作者
袁玉麟
袁兴旻
机构地区
浙江大学
杭州电子学院
出处
《电子工业专用设备》
1991年第4期32-35,共4页
Equipment for Electronic Products Manufacturing
基金
浙江省自然科学基金
关键词
硅片
平整度
测试仪器
性能
分类号
TN307 [电子电信—物理电子学]
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电子工业专用设备
1991年 第4期
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