期刊文献+

一种基于知识的可测试性设计 被引量:3

A Knowledge-based Design for Testability
下载PDF
导出
摘要 本文提出了一种基于知识的可测试性设计(DFT)方法。系统在“专家”知识的指导下,实现了分类的DFT。该方法采用选择跟踪插入测试点,几乎在线性时间内实现了可测试性的较优改进。该方法具有的自学习能力大大减小了DFT的计算量。 In this paper, a knowledge-based design for testability (DFT), is presented. A classified DFT is implemented under the guidance of the 'expert' knowledge. The principle of selective tracing is also used to place test point, thereby testability is suboptimally improved in almost li near time. This method simplifies conventional DFT because of its self-learning ability.
作者 向东
出处 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1991年第3期106-109,共4页 Acta Electronica Sinica
  • 相关文献

参考文献1

  • 1Chen T H,IEEE Trans CAD,1985年,4卷,3页

同被引文献11

  • 1向东,1991年
  • 2魏道政,J Computers,1988年,11卷,7期,408页
  • 3Chen T H,IEEE Trans CAD,1985年,4卷,1期,3页
  • 4向东,计算机学报
  • 5向东,博士学位论文,1993年
  • 6向东,1992年
  • 7向东,J Comput Sci Technol,1992年,7卷,2期,164页
  • 8向东,计算机学报,1991年,16卷,4期,331页
  • 9Cheng K T,IEEE FTCS,1989年,28页
  • 10Chin C K,IEEE Trans C,1987年,36卷,252页

引证文献3

二级引证文献2

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部