半导体材料质量和测试标准现状及发展
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1ATM测试标准[J].通讯产品世界,1996(12):53-55.
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2David Jenkins,Warren L Henderson.笔记本电脑Modem评测报告[J].互联网周刊,2000(7):40-41.
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3华庆恒,刘春香.半绝缘砷化镓材料质量与器件参数的某些相关性[J].半导体杂志,1991,16(3):29-39. 被引量:2
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4日高恒义,韩丹.数字图像的评价方法[J].电视技术,1999,23(11):76-85.
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5秦大甲.截止波长测试标准的修改[J].文献快报(纤维光学与电线电缆),1997(9):21-22.
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6董原,买望.NFC技术与测试标准[J].世界电信,2013(9):75-80. 被引量:2
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7汪薇薇.CDMA手机测试浅析[J].电信网技术,2006(10):66-68. 被引量:2
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8史锁兰.LTE终端设备电磁兼容测试标准YD/T 2583.14-2013解析[J].安全与电磁兼容,2015(4):29-31.
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9吴彦灵,孟莹.美国军用电磁兼容性测试标准的新变化——介绍MIL—STD—462D[J].环境技术,1996,14(2):38-42.
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