摘要
利用气相传输法制备二氧化锡纳米线,通过X射线衍射(XRD)和扫描电子显微镜(SEM)及高分辨透射电子显微镜(TEM)对产物晶体结构、形貌和微结构进行了表征.该样品荧光光谱中主要包含两个发光带,分别位于360 nm及445 nm.X射线光电子能谱(XPS)结果显示该纳米结构产生的蓝色缺陷态辐射主要源于氧空位产生的缺陷态深能级.
SnO2 nanowires are synthesized by vapor transport method,and then their crystal structure,morphology and microstructure are evaluated and characterized by X-ray diffraction( XRD),Scanning electron microscopy( SEM) and High-resolution transmission electron microscopy( TEM). Photoluminescence of the SnO2 nanowires mainly comprises two emission bands separately located at 360 nm and 445 nm. The radiation of the blue defect state is attributed to the deep level from oxygen vacancy,which can be confirmed by X-ray photoelectron spectroscopy( XPS).
出处
《江苏教育学院学报(自然科学版)》
2013年第4期1-3,92,共3页
Journal of Jiangsu Institute of Education(Social Science)
基金
国家自然科学基金(项目编号:11104119)
江苏省青蓝工程优秀青年骨干教师计划
江苏科技大学博士科研启动基金
2012江苏省高等学校大学生实践创新训练计划
2013江苏科技大学本科生创新计划项目
关键词
二氧化锡
纳米结构
缺陷态
stannic oxide(SnO2),nanostructure,defect state