时代民芯自主开发读卡器芯片测试仪

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摘要目前，时代民芯宣布读卡器控制芯片进入量产阶段，为方便用户测试样品，读卡器项目组通过对自身实力的细致评估，决定自主开发一款芯片测试仪，该款测试仪既要能够全面测试时代民芯公司的读卡器芯片，也要支持现有绝大多数读卡器（u盘）的测试。经过硬件系统确认、软件设计、系统测试以及外观设计四个阶段，读卡器项目组自主开发完成的15台“民芯测试仪”全部测试合格，并已交付客户使用。（来自时代民芯）

出处《中国集成电路》 2013年第10期1-1,共1页 China lntegrated Circuit

关键词控制芯片测试仪读卡器开发硬件系统软件设计外观设计项目组

分类号 TP333 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]

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