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基于Harr小波变换的集成块引脚位置偏差检测 被引量:7

Deviation Inspecting of DIP Chip Pin Location Based on Harr Wavelet Transforming
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摘要 集成块引脚的位置检测是集成块外观检测中必不可少的一个环节 ,本文提出了基于 Harr小波变换的大型集成块引脚位置偏差检测方法 ,当 Harr小波的尺度与引脚宽度相当时 ,小波变换结果中的零值点可用于确定引脚的中心线。该方法具有快速和精度高的特点。实验证明 ,该方法可达到 40分之一像素的精度。 The inspection of chip pin location is a necessary step in chip aspect measurement.A measurement method for it based on Harr wavelet transform calculation is proposed in this paper,that is locating the central line of leg according to the zero axial position of transform.The method has the merits of fast speed and high precision.The experiment showed that the measurement precision reached one fortieth pixel.
出处 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2000年第6期604-607,共4页 Chinese Journal of Scientific Instrument
基金 天津市光电子联合科学研究中心基金
关键词 Harr小波变换 集成块引脚 位置偏差检测 IC chip Aspect inspection Harr Wavelet transfo,
  • 相关文献

参考文献5

  • 1周恕义,关承祥,邬敏贤,金国藩.用最小二乘法提高 CCD 干涉计量的精度[J].仪器仪表学报,1999,20(1):100-102. 被引量:18
  • 2Kenneth R Castleman,Digital image processing,1998年
  • 3赵松年,小波变换与子波分析,1997年
  • 4崔屹,数字图像处理技术与应用,1996年
  • 5顾德门 J W,傅立叶光学导论,1979年

二级参考文献6

共引文献17

同被引文献56

引证文献7

二级引证文献38

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