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SFS—ID智能料位测控仪的抗干扰设计
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摘要
介绍了在设计智能料位测控仪时为提高该仪器可靠性而采取的几种抗干扰措施 ,解决了电子元件性能的热漂 ,净化了供电系统 ,提高了产品的可靠性 ,取得了良好的效果。
作者
王庸贵
机构地区
四川大学
出处
《计算机自动测量与控制》
CSCD
2000年第5期56-56,58,共2页
Computer Automated Measurement & Control
关键词
抗干扰
智能粒位测控仪
SFS-ID型
电子元件
分类号
TH816.02 [机械工程—精密仪器及机械]
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计算机自动测量与控制
2000年 第5期
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