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基于LabVIEW环境的简易晶体管图示仪的设计与实现

Design and Implementation of Simple Transistor Tracer Based on LabVIEW
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摘要 晶体管图示仪是一种对晶体管特性参数进行测量的仪器。传统的晶体管图示仪体积大、功能强,但价格高昂。文章针对传统晶体管图示仪体积大的特点,在LabVIEW环境下,使用NI-DAQ数据采集函数,结合NI数据采集卡,构建了简易的晶体管图示仪。 Transistor Tracer is a kind of transistor parameters measuring instruments. Traditional transistor tracer is bulky, powerful, but expensive. In this paper, against bulky feature of the traditional transistor tracer, a simple transistor tracer is built using NI-DAQ data acquisition functions, combined with NI data acquisition card in the environment of LabVIEW.
出处 《仪表技术》 2013年第11期32-34,共3页 Instrumentation Technology
基金 高等学校博士点专项科研基金联合资助类(20121402110017)
关键词 晶体管图示仪 LABVIEW 数据采集 transistor tracer LabVIEW data acquisition
  • 相关文献

参考文献3

  • 1童诗白.模拟电子技术基础[M].北京:高等教育出版社,1980..
  • 2陈锡辉,张银鸿.基于LabVIEW8.20程序设计从入门到精通[M].北京:清华大学出版社,2008.
  • 3岂兴明,田京京.LabVIEW入门与实战100例[M].北京:电子工业出版社,2011.

共引文献23

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