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3- 27 Worst-case Supply Voltage for Single Event Upset Performance of Commercial SRAM Devices

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出处 《IMP & HIRFL Annual Report》 2012年第1期117-117,共1页 中国科学院近代物理研究所和兰州重离子研究装置年报(英文版)
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参考文献3

  • 1L.R. Hite, H. Lu,T. W. Houston,et al. , IEEE Trans. Nuc. Sci. , 39(1992)2121.
  • 2F. E1-Mamouni, E. X. Zhang, D. R. Ball, et ai. , IEEE Trans. Nuc. Sci. , 59(2012)2674.
  • 3S. Uznanski, G. Gasiot,P. Roche, et al., IEEE Trans. Nuc. Sci., 58(2011)2652.

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