逻辑分析系统在电路调试中的应用

Application of Logic Analyses System in Circuit Test

下载PDF

导出

摘要本文以具有数据发生器的ＬＡＳ３２２００逻辑分析系统为例，介绍了使用的逻辑分析系统调试数字电路及含有微机芯片电路的现代调试方法和技巧。 This essay introduces the testing method and skill for digital circuit and circuit embedded with microprocessor chip by means of Logic Analyzing System, wihle taking Data Generator as examples.

作者赵卫滨于诚

机构地区北京船舶工业管理学院辽宁省人民医院

出处《现代科学仪器》 1999年第6期35-39,共5页 Modern Scientific Instruments

关键词功能测试电路调试逻辑分析系统数字电路 Function test Glitch catch Test driving

分类号 TN79 [电子电信—电路与系统]

引文网络
相关文献

1胡定宪.逻辑分析系统在数字电路测试中的应用[J].计算机与数字工程,2001,29(2):54-57.
2赵卫滨.谈谈电路调试中的现代手段[J].电子制作,2000,8(7):32-33.
3马卓南.数字电路测试中逻辑分析系统的应用探讨[J].华东科技（学术版）,2015,0(5):38-38.
4FuturePlus Systems为泰克逻辑分析仪推出世界上速度最快的DDR3插补器[J].电子测量技术,2008,31(7):195-195.
5FuturePlus Systems为泰克逻辑分析仪推出DDR3插补器[J].电信技术,2008(7):70-70.
6张伟.奔驰GLC新技术剖析(三)[J].汽车维修技师,2016,0(1):26-29.

现代科学仪器

1999年第6期

浏览历史

内容加载中请稍等...

逻辑分析系统在电路调试中的应用

相关作者

相关机构

相关主题

浏览历史