摘要
本文是《分析试验室》定期评述中“X射线荧光光谱分析”课题的第三篇评述文章。它收集了国内学者在国内外刊物和专业会议上发表的268篇文章(其中在刊物上发表的153篇),时间基本上限于1988年6月至1990年6月。评述了在此期间我国X射线荧光光谱概况及进展。内容有仪器、进口仪器性能扩充、定量分析、定性和半定量分析、XRF在标准物质研制中的应用及状态分析和解谱程序等六个方面。关于应用方面放在定量分析方法的评述中予以论述。
In the period under review,i, e.,from july of 1988 to july of 1990, Some 268 articles on X-ray spectrometry in China were published. The review includes general situation, Advances in XRF spectrometers, advances and application of quantitative and qualitative analysis,analysis of standard reference materials and X-ray chemistry.
出处
《分析试验室》
CAS
CSCD
北大核心
1991年第4期133-142,共10页
Chinese Journal of Analysis Laboratory
关键词
X射线
荧光光谱分析
定量分析
x-ray spectrometry
XRF Spectrometer
XRF quantitative and qualitative analysis