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安捷伦MXE新品引领EMI测试标准
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摘要
第十二届国际电磁兼容暨微波展览会日前在上海光大会展中心举行,作为全球领先的测试测量公司和电磁兼容测试领域的开拓者,安捷伦现场与媒体面对面分享了其最新EMI测试解决方案。
出处
《中国集成电路》
2013年第11期3-3,共1页
China lntegrated Circuit
关键词
EMI
安捷伦
测试标准
上海光大会展中心
电磁兼容测试
测试解决方案
测试测量
展览会
分类号
TN03 [电子电信—物理电子学]
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小城.
应对电磁兼容测试挑战,安捷伦MXE新品引领EMI测试标准[J]
.航空制造技术,2013,56(21):24-24.
2
应对电磁兼容测试挑战,安捷伦MXE新品引领EMI测试标准[J]
.电子测量与仪器学报,2013,27(11):1053-1053.
被引量:2
3
陈得民.
机动车MEMS压力传感器电磁兼容测试[J]
.上海计量测试,2015,42(2):34-37.
被引量:1
4
谢明忠.
时脉电路的电磁波干扰[J]
.电子与电脑,2004(1):162-167.
中国集成电路
2013年 第11期
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