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通过ECID技术实现半导体测试流程优化
被引量：
1
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摘要
本文介绍了如何通过程序有效地解读ECID文件,提取有用信息,并通过ECID数据解决半导体测试中无效复测问题的方法。
作者
刁维虎
机构地区
飞思卡尔半导体(中国)有限公司
出处
《中国集成电路》
2013年第11期62-63,共2页
China lntegrated Circuit
关键词
ECID
半导体测试
制程优化
哈希结构
分类号
TN307 [电子电信—物理电子学]
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中国集成电路
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