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用于GaAs高速集成电路芯片的电光采样分析仪

An Electro-optic Sampling Analyzer for GaAs High-speed IC's Chip
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摘要 本文介绍了一种实用的电光采集分析仪 ,其稳定的光学系统结构可保持精度几年不变 ,单位带宽电压灵敏度为 2 52mV/Hz ,空间分辨率 3μm ,测量带宽 2 0GHz。用此分析仪对GaAs高速动态二分频器芯片进行了在片测试 ,其测量波形与理论分析一致。 This paper introduced a practical electro optic sampling analyzer,with the spatial resolution 3μm,voltage sensitivity of unit frequency bandwidth 2 52 mVHz,measuring bandwidth 20GHz.Its optical system construction can hold the stability with a high precision for a few years. A GaAs high speed dynamic divider was measured using this analyzer,and the measured waveform agree well with the theory analysis.
出处 《电子测量与仪器学报》 CSCD 2000年第4期45-48,共4页 Journal of Electronic Measurement and Instrumentation
基金 高等学校重点实验室访问学者基金 集成光电子学国家重点联合实验室开放课题资助
关键词 电光采样 集成电路芯片 分析仪 Electro-optic sampling Integrated circuit chip Analyzer
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