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新起点,赢未来——安捷伦科技携系列新品和解决方案参展BCEIA 2013

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摘要第十五届北京分析测试学术报告会暨展览会（BCEIA2013）于2013年10月23日在北京拉开帷幕，全球领先的测试测量公司安捷伦科技如期参会。安捷伦科技高级副总裁、化学分析事业部总裁MikeMcMullen先生专程到访，

出处《理化检验（化学分册）》 CAS CSCD 北大核心 2013年第11期I0002-I0003,共2页 Physical Testing and Chemical Analysis(Part B:Chemical Analysis)

关键词安捷伦科技测试测量学术报告会化学分析展览会北京总裁

分类号 TN43 [电子电信—微电子学与固体电子学]

引文网络
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理化检验（化学分册）

2013年第11期

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