电磁兼容测试的可重复性与可比性
出处
《电子科技》
2000年第21期37-39,共3页
Electronic Science and Technology
-
1陈华林.浅谈移动通信技术的发展方向[J].中国科技纵横,2010(14):245-245.
-
2朱文立.信息技术设备的电磁兼容测试[J].电子质量,2000(1):27-30. 被引量：1
-
3华雷广.彩显I^2C总线非数据性故障分析与检修4例[J].家电维修,2005(12):36-37.
-
4邱学军,范海波,孙朝晖,孙巍峰.信息技术设备电磁兼容测试方法的探讨[J].检验检疫科学,2000,10(3):26-27. 被引量：1
-
5丁丁.集成电路的电磁兼容测试[J].安全与电磁兼容,2008(3):38-41. 被引量：1
-
6单片机和集成电路比较[J].制造技术与机床,2016,0(12):128-128.
-
7程文芳.IMEC生产出具有高一致性AlGaN/GaN外延层的150mm硅圆片[J].半导体信息,2006,0(4):14-14.
-
8展商感言[J].汽车制造业,2015,0(20):24-26.
-
9冯翠花,方敏.浅谈抑制电磁辐射干扰的方法[J].制冷与空调,2008,8(1):92-94. 被引量：3
-
10接收机[J].电子科技文摘,2002,0(8):45-46.
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