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安捷伦参展BCEIA2013

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摘要第十五届北京分析测试学术报告会暨展览会（BCEIA 2013）于2013年10月23日在北京拉开帷幕，全球领先的测试测量公司安捷伦科技如期参加此次展会。

出处《环球科学》 2013年第12期19-19,共1页

关键词安捷伦科技学术报告会展览会测试北京

分类号 TN43 [电子电信—微电子学与固体电子学]

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环球科学

2013年第12期

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