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基于单片机的通用测试模块设计

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摘要 介绍一种基于单片机的测试模块设计方法。采用51系列单片机,对硬件电路进行模块化设计;采用C语言对软件(核心)部分进行设计。所设计的模块供专用测试设备使用,可以有效地提高其通用性、可扩展性和可维护性,具有较强的实用价值。
作者 黄为平
出处 《计测技术》 2013年第B11期28-30,共3页 Metrology & Measurement Technology
  • 相关文献

参考文献3

  • 1胡乾斌.单片微型计算机原理与应用[M].武汉:华中理工大学出版社,2000:130-150
  • 2徐爱钧.单片机高级语言C51应用程序设计[M].北京:电子工业出版社,2001..
  • 3] AD574 Data Sheet. AD620 Data Sheet [ DB/OL] . [ 2013 - 08 -02 ] . htpp//www, analog, com.

共引文献12

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