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助力中国创造的高性能测试仪器——首届仪器仪表器件选型技术研讨会圆满举办
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摘要
11月13日,由《电子产品世界》杂志社与中电会展信息与传播有限公司共同主办、中国电子学会电子测量与仪器分会指导的“首届仪器仪表器件选型技术研讨会”在上海第82届全国电子展上召开。
出处
《电子产品世界》
2013年第12期10-10,共1页
Electronic Engineering & Product World
关键词
中国电子学会
技术研讨会
仪器仪表
测试仪器
选型
器件
性能
电子产品
分类号
TP274-2 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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