基于扫描链测试的HDL编码规范分析与研究

集成电路制造过程的缺陷会使部分芯片失效,因此需要通过高效的自动测试方法来对芯片的正确性进行检测。该文针对集成电路自动测试方法中的扫描链测试,提出了六条HDL编码规范,用于提高测试覆盖率从而提高测试效率。把这些编码规范应用到实例设计中,实验结果显示,遵循全部规范时测试覆盖率可达到100%,而不遵循其中的任一规范时测试覆盖率均有一定程度的减少。通过对各种情况下的故障分布进行分析表明,在前端设计时遵循这些HDL编码规范,能以最小的性能牺牲,获得较高的测试覆盖率。