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EMIF在TD-LTE无线综测仪系统中的应用

Application of EMIF in System of TD-LTE
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摘要 通用串口速率较低难以满足大量的复杂性数据的传输需求,为了满足TD-LTE无线综合测试仪表开发中DSP与FPGA芯片之间快速通信的需求,通过研究DSP手册和Xilinx V5芯片,设计了一种通过EMIF接口在两个芯片之间进行快速数据交互的简单有效方案;经过FPGA仿真、综合、与DSP联机调试等操作,验证了该设计方案能够实现数据的正确传输,工作性能稳定且具有较强的可靠性;该设计方案数据处理能力强,传输速率达到457.1Mbit/s,且已在TD-LTE无线综合测试仪表的开发中得到应用。 The rate of general serial port is too slow,and it can't meet a great deal of complexity data transmission needs.Through the study of the manual of DSP and V5chip of Xinlinx,a brief and effective scheme is designed based on the transmission between DSP and FPGA using interface of EMIF to satisfy the high speed communication demands in the wireless synthetical testing instrument development. The scheme can achieve the accurate data transmission,steady and better reliability,testified through such operations as FPGA simulation, synthesis and PCB verification,on-line debugging with DSP,etc.The rate of this scheme is up to 457.1Mbit/s and it has already been applied to the development of wireless testing instrument.
出处 《计算机测量与控制》 北大核心 2013年第12期3441-3443,共3页 Computer Measurement &Control
基金 国家科技重大专项基金资助项目TD-LTE无线综合测试仪表开发(2009ZX30002-009)
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参考文献1

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