高分辨率阵列感应测井仪器刻度校正研究

正确的刻度是高分辨率阵列感应测井仪测量的关键一环。在阵列感应测井仪刻度理论的基础上，在半空间刻度环境下，理论计算并且分析了阵列感应的视电导率，通过与实际测量对比，进而得到刻度环境的大地电导率。利用大地电导率可以得到更加精确的线圈系误差。