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基于频谱分析原理减小TOFD检测近表面盲区的方法 被引量:8

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摘要 提出了一种利用频谱分析法从超声衍射时差法(TOFD)检测中直通波与缺陷上尖端衍射波混叠波形中提取缺陷位置信息,进而确定缺陷埋深的方法。对厚度为35mm的碳钢试块中埋深5mm的底面开口槽进行了实验测试,效果较好。分析表明,在本文采用的检测参数下,利用该方法理论上可将近表面盲区深度从8.3mm减小至3mm。并进一步讨论了该方法在减小TOFD近表面盲区问题中的适用范围、优点与局限性。
出处 《无损探伤》 2013年第6期20-21,26,共3页 Nondestructive Testing Technology
基金 "十二五"国防技术基础科研项目(Z0220120001)
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