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Kelvin连接方法在芯片Rdson测试中的应用
被引量:
3
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摘要
本文介绍了传统方法在测试Rdson时的弊端以及kelvin连接测电阻技术的原理和在Rdson测试中的应用。
作者
刁维虎
机构地区
飞思卡尔半导体(中国)有限公司
出处
《中国集成电路》
2013年第12期67-68,共2页
China lntegrated Circuit
关键词
Rdson
Kelvin连接
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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中国集成电路
2013年 第12期
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