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薄板镀锡层及清洗剂渍层量的X荧光测定
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摘要
本文应用VXQ—150 X荧光谱仪对镀锡基板表面镀层厚度及清洗剂渍层量的测定,其精度符号要求。
作者
彭国靖
机构地区
武钢钢研所
出处
《钢铁研究》
CAS
1991年第1期39-40,共2页
Research on Iron and Steel
关键词
薄板镀锡层
清洗剂渍层量
X荧光
分类号
TG115.213 [金属学及工艺—物理冶金]
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钢铁研究
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