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NI平台加速构建测试测量未来——NIDays 2013全球图形化系统设计盛会中国站圆满落幕

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摘要 2013年11月14日NIDays 2013在上海国际会议中心隆重召开.此次NIDays以“图形有边,系统无界”为主题,向近千位来自不同行业的工程师和二十多家行业媒体全方位展示了NI集成软硬件的图形化系统设计平台在加速测试测量和控制系统开发方面的优势,分享了最新应用成果.

作者张莹

出处《国外电子测量技术》 2013年第12期17-18,24,共3页 Foreign Electronic Measurement Technology

关键词 NIDAYS 控制系统测试测量设计平台图形化中国国际会议中心软硬件

分类号 TN929.533 [电子电信—通信与信息系统]

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国外电子测量技术

2013年第12期

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