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2014年全国电子显微学会议及征文通知(第一轮)
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摘要
一、2014年全国电子显微学会议通知 2014年全国电子显微学会议将于10月中旬择地举行。大会的学术交流内容包括透射电子显微镜、扫描电子显微镜、微束分析、扫描探针显微镜(包括STM、AFM等)、激光共聚焦显微镜等在物理学、材料科学、纳米科技、生命科学、化学化工。
机构地区
中国电子显微镜学会"
出处
《电子显微学报》
CAS
CSCD
2013年第6期I0012-I0012,共1页
Journal of Chinese Electron Microscopy Society
关键词
透射电子显微镜
征文通知
学会
激光共聚焦显微镜
扫描电子显微镜
扫描探针显微镜
学术交流
微束分析
分类号
TB383 [一般工业技术—材料科学与工程]
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1
2012年全国电子显微学会议及征文通知(第一轮)[J]
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2
2013年全国电子显微学会议及征文通知(第一轮)[J]
.电子显微学报,2012,31(6).
3
2014年全国电子显微学会议及征文通知(第一轮)[J]
.电子显微学报,2014,33(2).
4
2014年全国电子显微学会议及征文通知(第一轮)[J]
.电子显微学报,2014,33(1).
5
2012年全国电子显微学会议及征文通知(第一轮)[J]
.电子显微学报,2012,31(1):96-96.
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10
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电子显微学报
2013年 第6期
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