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CMOS集成电路的电热耦合效应及其模拟研究 被引量:7

A Simulation and Study of Electro-Thermal Coupling Effects in CMOS IC's
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摘要 文章基于集成电路具体的封装结构提出了它的热学分析模型。针对均匀温度分布的集成电路 ,采用解耦法实现了电热耦合模拟软件 Etsim。 WT5”BZ]A thermal analysis model for a packaged IC chip is proposed and the temperature-dependent circuit performance is analyzed Based on relaxation method, an electro-thermal simulator (Etsim) has been developed, which can be used to simulate the electro-thermal effects under uniform temperature distribution
出处 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2001年第1期10-12,共3页 Microelectronics
基金 国家自然科学基金重大项目 !(5 9995 5 5 0 - 0 1)
关键词 CMOS集成电路 自热效应 电热耦合效应 CMOS IC Self-heat effect Electro-thermal coupling effect
  • 相关文献

参考文献2

  • 1Cheng Y,IEEE Trans Computer Aided Design,1998年,17卷,8期,668页
  • 2Chang C Y,ULSI technology,1995年

同被引文献54

引证文献7

二级引证文献11

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