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GaAs MMIC可靠性研究与进展 被引量：1

The Development of Reliability Research on GaAs MMICs
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摘要 介绍了GaAs器件及MMIC的可靠性研究现状 。 This paper introduces the development of reliability researches on GaAs devices and MMICs. Failure modes and failure mechanisms of some GaAs devices are presented.
作者 吴海东 庄志强 莫郁薇 张增照 聂国健
机构地区 华南理工大学材料工程系 信息产业部电子第五研究所
出处 《电子产品可靠性与环境试验》 2001年第1期29-33,共5页 Electronic Product Reliability and Environmental Testing
关键词 砷化镓器件 单片微波集成电路 可靠性 失效 GaAs devices MMIC reliability failure
分类号 TN454 [电子电信—微电子学与固体电子学]
  • 相关文献

参考文献6

二级参考文献5

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共引文献8

同被引文献10

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引证文献1

二级引证文献2

电子产品可靠性与环境试验
2001年 第1期

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