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基于DOE与RSM提升半导体测试良品率的方法

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摘要 通过DOE与RSM的方法,利用Minitab软件,对IC测试参数进行优化。本文以F芯片的高端驱动限制电流为例,利用DOE与RSM对高端驱动限制电流测试项建立生产测试模型,对限制电流微调参数进行优化,从而改善了高端驱动限制电流的质量特性,提升了芯片良品率。
作者 刁维虎
出处 《中国集成电路》 2014年第1期54-58,共5页 China lntegrated Circuit
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参考文献4

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