热电材料测量进展

近几年为得到高性能热电材料，开发了薄膜和纳米结构热电材料。为降低薄膜与热电偶电极接触电阻，在接触部位途覆金、银类薄膜，采用四探头法，借助Arpac理工公司ZEM-3和ZEM-5TF装置测量电阻率和塞克系数。