硅基光电探测新思路,无外接驱动实现高效光电检测

在国家自然科学基金、中科院“百人计划”等项目基金的资助下，中科院新疆理化技术研究所的研究人贝首次利用硅片表面热氧化层的非高质量特点产生漏电流，从而不但有效利用了硅片的吸光特点。