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国际半导体技术发展路线图(ITRS)2012版综述(4)
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摘要
3.15提高成品率 根据2011年版路线图重新划定的章节范围,“提高成品率”一章目前包括“晶圆环境与污染控制”(WECC)和“鉴定、检测和分析”(CIA)两个子章节。因此,提高成品率的活动都集中在这两个方面。
作者
郭新军
解沛轩
机构地区
工业和信息化部电子科学技术情报研究所
清华大学自动化系
出处
《中国集成电路》
2014年第3期13-21,共9页
China lntegrated Circuit
关键词
路线图
半导体技术
综述
国际
成品率
污染控制
晶圆
分类号
TN307 [电子电信—物理电子学]
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0
1
解沛轩(译),郭新军(校).
国际半导体技术发展路线图(ITRS)2012版综述(2)[J]
.中国集成电路,2013,22(12):18-29.
2
全球半导体技术发展路线图[J]
.集成电路通讯,2008,26(2):14-14.
3
王洪波.
国际半导体技术发展路线图2008年更新版综述(五)[J]
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4
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被引量:2
5
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6
KPCA SHOW WECC活动[J]
.印制电路信息,2004(6).
7
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.中国集成电路,2010,19(2):14-21.
被引量:2
8
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.中国集成电路,2009,18(8):20-28.
9
为国.
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.中国集成电路,2010,19(10):17-26.
10
王明.
电子产品的微组装技术[J]
.集成电路通讯,2008,26(3):48-56.
被引量:1
中国集成电路
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