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爱德万测试发表DDR4与LPDDR4测试方案
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摘要
爱德万测试(Advantest)宣布发表专为新一代存储器所设计的最新测试解决方案,以满足行动装置与伺服器市场对新一代存储器的强劲需求。此套最新测试解决方案T5503HS延续广为业界采用的T5503架构并加以改进,提供高速平行同测、完整相容性,并加入可升级设计,创造业界最佳性能,实现高产能低测试成本效益。
机构地区
爱德万测试
出处
《中国集成电路》
2014年第3期68-68,共1页
China lntegrated Circuit
关键词
测试方案
测试解决方案
行动装置
最佳性能
成本效益
存储器
级设计
伺服器
分类号
TP333 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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