探析减少自反馈测试硬件代价的两种有效方法
摘要
本文将对反馈节点反馈方法以及测试分组方法进行改进,并用实验论证,证明此法可有效的减少自反馈测试硬件代价。
出处
《计算机光盘软件与应用》
2014年第2期313-313,315,共2页
Computer CD Software and Application
参考文献2
-
1邝继顺,靳立运,王伟征,尤志强.减少自反馈测试硬件代价的两种方法[J].计算机研究与发展,2012,49(4):880-886. 被引量:1
-
2郭苗苗.基于自反馈的测试向量生成算法研究[J]计算机科学与技术,2011(05):556-560.
二级参考文献13
-
1Khare M,Albicki A. Cellular automata used for test pattern generation[A].Piscataway,NJ:IEEE,1987.56-59.
-
2Dufaza C,Viallon H,Chevalier C. BIST hardware generator for mixed test scheme[A].Piscataway,NJ:IEEE,1995.424-430.
-
3Touba N A,McCluskey E J. Test point insertion based on path tracing[A].Piscataway,NJ:IEEE,1996.2-8.
-
4Kapur R,Patil S,Snethen T J. Design of an efficient weighted random pattern generation system[A].Piscataway,NJ:IEEE,1994.491-500.
-
5Savir J. On chip weighted random patterns[A].Piscataway,NJ:IEEE,1997.344-352.
-
6Wunderlich H J,Kiefer G. Bit-flipping BIST[A].Piscataway,NJ:IEEE,1996.337-343.
-
7Touba N A,McCluskey E J. Bit-fixing in pseudo-random sequences for scan BIST[J].IEEE Transactions on Computer Aided Design of Integrated Circuits and Systems,2001,(04):545-555.
-
8Ichino K,Watanabe K,Arai M. A seed selection procedure for LFSR-based random pattern generators[A].Piscataway,NJ:1EEE,2003.869-874.
-
9Jutman A,Tsertov A,Ubar R. Calculation of LFSR seed and polynomial pair for BIST applications[A].Piscataway,NJ:IEEE,2008.1-4.
-
10Konemann B. LFSR-coded test patterns for scan designs[A].Piscataway,NJ:IEEE,1991.237-242.
-
1杨鹏,邝继顺.基于穷举和回溯的自反馈测试生成算法的实现[J].微电子学与计算机,2011,28(3):94-98.
-
2邝继顺,靳立运,王伟征,尤志强.减少自反馈测试硬件代价的两种方法[J].计算机研究与发展,2012,49(4):880-886. 被引量:1
-
3靳立运,邝继顺,王伟征.同步全扫描时序电路的TVAC测试方法[J].计算机工程,2011,37(12):268-269.
-
4安静.基于P2P电子商务的可信信用评价模型[J].石家庄职业技术学院学报,2015,27(6):46-50. 被引量:1
-
5吴秀,杨庚,陈珊珊.FFTrust:基于反馈过滤机制的P2P网络信任模型[J].广东通信技术,2009,29(9):24-29.
-
6陈伟,欧阳旦,汤光明.一种细粒度的基于灰色关联度的P2P信任模型[J].计算机系统应用,2010,19(6):153-157. 被引量:4
-
7Maxim推出低成本、双通道、吸入/源出电流DAC[J].电子技术应用,2009,35(8):88-88.
-
8DS4412:吸入/源出电流DAC[J].世界电子元器件,2008(3):47-47.
-
94通道、吸入/源出电流DAC[J].今日电子,2009(11):63-63.
-
10Maxim推出吸入/源出电流DAC[J].单片机与嵌入式系统应用,2008,8(4):87-87.