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低温SiGe/Si HBT的研制及性能分析 被引量:1

Fabrication and Characterization of SiGe/Si HBT Operating at Low Temperature
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摘要 用MBE(分子束外延 ,MolecularBeamEpitaxy)生长的材料研制了在低温工作的SiGe/SiHBT(异质结双极型晶体管 ,HeterojunctionBipolarTransistor) .其在液氮下的直流增益hfe(Ic/Ib)为 16 0 0 0 ,交流增益 β(ΔIc/ΔIb)为 2 6 0 0 0 ,分别比室温增益提高 5 1和 73倍 .测试了该HBT直流特性从室温到液氮范围内随温度的变化 ,并作了分析讨论 . The SiGe/Si HBTs operating at low temperature were fabricated. The current gain hfe (Ic/Ib) over 16000 and β (δIc/δIb) over 26000 are observed at 77 K, exceeding those at 290 K by about 51 and 73 times, respectively. The temperature dependence of DC characteristics of the HBT between 290 K and 77 K was described and analyzed. The departure from theoretical expectation of this dependence at very low temperature was discussed.
出处 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第2期285-286,274,共3页 Acta Electronica Sinica
基金 国家"863"计划! (No .863 30 7 1 5 4(0 6) ) 国家973项目! (No .G2 0 0 0 0 683 0 2 ) 国家自然科学基金! (No .698760 0 4 )
关键词 SIGE/SI HBT 分子束外延 异质结双极晶体管 低温电子学 Electric current control Gain control Low temperature properties Low temperature testing Semiconductor device manufacture
  • 相关文献

参考文献1

  • 1Yu L I,IEEE Trans Electron Devices,1983年,30卷,4期,326页

同被引文献3

引证文献1

二级引证文献8

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