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SOC测试中的新技术
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作者
高永强
出处
《通信与电子测试》
2001年第1期38-38,共1页
关键词
SOC
测试系统
集成电路
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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王新安,吉利久.
SOC测试中BIST的若干思考[J]
.微电子学与计算机,2003,20(10):41-44.
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2
许川佩,张婧,张民,吕广文.
基于功耗约束的SOC测试调度研究[J]
.桂林电子科技大学学报,2009,29(2):77-81.
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3
泰瑞达:以SoC测试技术徕卡战ATE市场[J]
.集成电路应用,2007,24(8):14-14.
4
贺亢.
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.科技与生活,2012(11):234-234.
通信与电子测试
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