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掺杂对CdSe-TFT稳定性影响的研究

Effect of Dopant on the Stability of CdSe TFT Performance
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摘要 利用蒸发和溅射工艺 ,研究了 Cd Se- TFT的制作 ,特别对掺 In的 Cd Se- TFT的电性能进行了研究。实验中观察到 Cd Se掺 In后 ,TFT的 I - V特性明显得到改善 ,得到了性能稳定的 TFT器件。利用半导体掺杂理论对此现象进行了解释。 CdSe TFT was prepared with evaporation and sputtering processes. It was observed that the I-V characteristics of TFT were improved when In was doped into CdSe. The result was explained by the dopant theory of semiconductor.
出处 《液晶与显示》 CAS CSCD 2000年第3期196-201,共6页 Chinese Journal of Liquid Crystals and Displays
基金 国家"8 63"资助项目!( 71 5-0 0 3 -0 0 70 )
关键词 薄膜晶体管 掺杂 稳定性 硒化镉 CdSe thin film transistor dopant
  • 相关文献

参考文献1

二级参考文献3

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