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薄膜材料光学参量的测量 被引量:1

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摘要 介绍了薄膜材料光学参量测量实验的原理和方法以及对 Ga N膜的测量结果 .
出处 《物理实验》 2000年第10期13-15,共3页 Physics Experimentation
  • 相关文献

参考文献5

  • 1梁春广,张冀.GaN——第三代半导体的曙光[J].Journal of Semiconductors,1999,20(2):89-99. 被引量:87
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共引文献86

同被引文献9

引证文献1

二级引证文献2

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