IC测试技术标准的新变化

任何一种电子产品(从PC到因特网设备)都离不开体积更小、功能更强的芯片。正是芯片推动着飞速的发展,同时,它也推动着IC电子设计自动化和测试技术的发展,但是测试不可避免地要滞后于IC的开发。 系统级芯片(或系统集成芯片)测试是一个费时间的过程。要完成测试,要降低测试成本,需要生成数千测试图形和矢量,还要达到足够高的故障复盖率才行。