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电子元器件测试系统选型中的若干问题

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摘要五、小型测试系统和中、大型测试系统小型测试系统和中、大型测试系统究竟有哪些共同之处和不同之处,这是很多用户单位关心的问题。 1.数字测试系统小型数字系统和中、大型数字系统的主要不同之处体现在以下方面: a.

作者孙铣

机构地区北京华峰测控技术公司

出处《世界产品与技术》 2001年第1期62-64,共3页

关键词电子元器件测试系统选型

分类号 TN606 [电子电信—电路与系统]

引文网络
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1孙铣.电子元器件测试系统选型中的若干问题[J].世界电子元器件,1999(12):44-48.
2孙铣.整机企业电子元器件测试系统选型[J].世界产品与技术,2002(6):63-66.
3孙铣.整机企业电子元器件测试系统选型[J].世界产品与技术,2002(5):65-68.
4孙铣.电子元器件测试系统选型中的若干问题[J].世界产品与技术,2000(12):45-47.
5孙铣.电子元器件军用标准和STS2100系列电子元器件测试系统[J].世界产品与技术,2001(7):63-65.
6孙铣.STS2100系列电子元器件测试系统[J].广东电子,1998(1):10-14.
7孙铣,孙强.STS 2100系列电子元器件测试系统——中小型电子元器件测试系统的发展探讨[J].电子测试,1998,11(8):25-27.
8陈铣.STS2100系列电子元器件测试系统[J].计算机自动测量与控制,1997,5(2):9-14.
9孙铣.STS 2100系列电子元器件测试系统[J].世界电子元器件,1999(8):58-61.
10孙铣.STS 2100系列电子元器件测试系统[J].微电子测试,1996,10(1):33-34.

世界产品与技术

2001年第1期

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