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NORFLASH存储芯片测试程序的设计 被引量:2

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摘要 在公司现有硬件平台基础上,开发设计测试程序对NORFLASH存储芯片进行测试。实验结果表明,该测试程序的设计能避免由于无测试工具而无法测试到的储存区块损坏造成的设备运行异常,并实现测试自动化。
作者 张东磊
出处 《电子世界》 2014年第6期115-115,F0003,共2页 Electronics World
  • 相关文献

参考文献1

  • 1李亚峰,欧文盛.ARM嵌入式Linux系统开发从入门到精通M.北京:清华大学出版社.2007.

同被引文献23

引证文献2

二级引证文献2

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