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宏观粒子在等离子体中的纯化模型研究 被引量:4

Purification Model for Macroscopic Particles in Plasma
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摘要 从宏观粒子和微观粒子的输运现象及等离子体化学入手 ,建立了宏观粒子沉降过程中的纯化模型 .计算了各类粒子的浓度的径向分布、加速度、速度、沉降时间及杂质的去除总量 .结果表明 ,对于纯度为 99%的Si Ge合金颗粒中的杂质总量可去除 97%左右 . The purification model of macroscopic particles in descending process is established from the transport phenomena of particles and plasma chemicals. The concentration distribution, acceleration, velocity, and descending time of all kinds of particles and the removing amount of the impurities are calculated. Being identical with the experimental effects, the results show that about 97?% of impurities in silicon-germanium alloy powder can be removed.
出处 《华中理工大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第2期16-18,共3页 Journal of Huazhong University of Science and Technology
基金 国家自然科学基金资助项目! (198740 2 2 ) 广西自然科学基金资助项目! (9912 0 0 4)
关键词 等离子体 宏观粒子 纯化模型 粉粒沉降 浓度分布 加速度 沉降时间 薄膜淀积 硅粉 plasma macroscopic particles purification model
  • 相关文献

参考文献2

二级参考文献3

共引文献8

同被引文献20

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引证文献4

二级引证文献6

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