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孔化过程中过孔塞孔现象的探究
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摘要
在PCB制作过程中,塞孔现象会导致孔无铜、孔铜偏薄缺陷,直接影响到PCB的电气功能,这是一直困扰PCB制作的顽疾。塞孔现象目前没有成熟的检测工具,使塞孔现象在过程控制中容易被忽略,最终使PCB报废或将不良品流入到客户端。孔铜偏薄现象在客户端使用时,受热拉伸导致孔铜断裂形成开路,引起客户投诉。本文主要讲述塞孔缺陷的危害性、导致塞孔的原因分析及过程控制。
作者
郭雪春
欧植夫
林性恩
刘寿展
机构地区
双鸿电子(惠州)有限公司
出处
《印制电路资讯》
2014年第3期108-110,共3页
Printed Circuit Board Information
关键词
塞孔
孔无铜
孔铜偏薄
分类号
TN405 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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印制电路资讯
2014年 第3期
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