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电子显微镜真空系统常见故障及对策 被引量:3

Common Technical Hitches in the Vacuum System of Electron Microscope and the Way of Dealing with
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摘要 真空度的高低 ,直接影响成像质量 。 The degree of vacuum in electron microscope directly affects the quality of the image formation.The common technical hitches and the method of removal are introduced.
作者 朱宇
出处 《内蒙古大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 2001年第2期234-235,共2页 Journal of Inner Mongolia University:Natural Science Edition
关键词 真空系统 故障 电子显微镜 真空度 排除方法 真空检漏 镜筒 electron microscope vacuum system hitch
  • 相关文献

参考文献4

  • 1姚骏恩.实用电子显微术[M].北京:中国科学院科学仪器厂服务部,1981..
  • 2朱宜,电子显微镜的原理和使用,1983年,68页
  • 3朱丽霞,生物学中的电子显微镜技术,1983年,276页
  • 4姚骏恩,实用电子显微术,1981年

同被引文献9

引证文献3

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