泰克示波器增加基于IBIS-AMI模型和S参数的建模功能 助力实现快速、准确的片上硅行为特征鉴定;改进与仿真结果之间的关联性

近日，泰克公司日前宣布，对其MSO／DP070000系列数字及混合信号示波器上的分析系统功能进行扩展，增加了包括使用IBIS—AMI模型和S参数对片上硅行为进行建模等功能。其显著加强了测量和仿真之间的关联，有助于更准确地鉴定片上硅行为及性能特征，满足当今移动、企业及数据通信标准的要求。