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美制全反射凹面镜的重新镀膜及其性能测试
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摘要
美国Jarrell—Ash公司的96—975型光量计的外光路成象系统是用一块全反射凹面镜,经使用数年后,反射率有所下降,使光谱强度减弱,致使微量元素的检测遇到困难。本文简要地介绍对美制96—975型光量计的全反射凹镜的重新镀膜及其性能的测试。
作者
刘虎生
冯斌
刘利兴
机构地区
北京化工冶金研究院
北京光学仪器厂
出处
《国外科学仪器》
1991年第1期47-49,共3页
关键词
光量计
全反射凹面镜
镀膜
测试
分类号
TH741.06 [机械工程—光学工程]
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