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利用紫外线三维荧光光谱分析方法提取潜在指纹

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摘要 通过光谱分析实验 ,分别测定石英和白板载片上的富含皮脂潜在指纹的二维和三维荧光光谱 ,并利用波长 2 60~ 30 0nm的紫外线激发指纹残留物 ,从而获得波长 31 0~ 380nm范围的指纹荧光光谱。实验数据验证了运用紫外荧光照相方法提取潜在指纹的结果。
出处 《影像材料》 2001年第1期24-26,共3页 Image Materials
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